буланын ийилишинин жоголушу оптикалык була белгилүү бир радиустан тышкары ийилгенде пайда болгон сигналдын жоголушун билдирет. Бул кубулуш буланын кабык аркылуу өткөндө анын өзөгүнөн жарыктын агып чыгышынан келип чыгат. Була ийилгенде, жарык нурлары өзөк менен капталган чек арада толук ички чагылышууга дуушар болот. Бирок, эгерде ийилүү радиусу өтө кичинекей болсо, жарык нурларынын айрымдары кабык аркылуу өтүп, жоготууга алып келиши мүмкүн.

буланын ийилүүсүнүн жоголушу бир нече факторлорго көз каранды:

Ийилүү радиусу: Ийилүү радиусу канчалык кичине болсо, ийилүүдөгү жоготуу ошончолук жогору болот. Себеби, ийилүү радиусу кичине болсо, жарык нурлары чоңураак ийриликке дуушар болуп, каптама аркылуу агып кетүү ыктымалдыгы жогорулайт.

Була түрү: Ар кандай булалардын ийилүү жоготуу мүнөздөмөлөрү ар кандай болот. Мисалы, бир режимдүү булалардын ийилүү жоготуулары көп режимдүү булаларга салыштырмалуу төмөн болот.

Толкун узундугу: Ийилүү жоготуусу була аркылуу өткөн жарыктын толкун узундугуна жараша өзгөрүшү мүмкүн. Айрым толкун узундуктарында ийилүү жоготуусу башкаларга караганда жогору болушу мүмкүн.

Була дизайны: Сынуу көрсөткүчүнүн профилин жана колдонулган материалдарды кошо алганда, буланын дизайны ийилүүдөгү жоготууга таасир этиши мүмкүн.

Каптоо: Булага колдонулган каптоонун түрү жана сапаты анын ийкемдүүлүгүнө жана ийилүүгө туруктуулугуна таасир этиши мүмкүн.

Ийилүүдөгү жоготууларды азайтуу үчүн, оптикалык булаларды этияттык менен колдонуу жана ашыкча ийилүүдөн, айрыкча курч ийилүүдөн качуу маанилүү. Була-оптикалык кабелдер көбүнчө ийилүүдөгү жоготууларды азайтуу жана сигналдардын ишенимдүү өткөрүлүшүн камсыз кылуу үчүн коргоочу катмарлар жана бекемдөөлөр менен иштелип чыккан.

Оптикалык буланы колдонууда оптикалык жоготуунун татаалыраак түрү - микро ийилүү жоготуусу. Түзмөктөрдүн жана оптикалык булалардын өнүгүшү менен микро ийилүү жоготуусу көбүрөөк тынчсыздандыруучу жоготуу фактору болуп саналат. Түзмөктө электрдик которуштуруунун ордуна көбүрөөк түз оптикалык которуштуруу киргизилет жана була өтө кичинекей мейкиндикте узак мөөнөттүү стресске дуушар болот. Була үчүн, ичке була, кичинекей диаметрдеги була, же каптаманын калыңдыгын азайтуу, же каптаманын диаметрин азайтуу аркылуу; Ошо сыяктуу эле, көп өзөктүү булалар үчүн эффективдүү каптаманын калыңдыгы да бир топ азаят, бул микро ийилүү жоготуу коркунучун жогорулатат.

Микро-ийилүү жоготуусу жана макро-ийилүү жоготуусу түзмө-түз ийилүү менен байланыштуу, бирок жоготуунун пайда болуу механизми жагынан алардын ортосунда айкын айырмачылыктар бар. Ошондуктан, практикалык колдонмолордо жоготуунун мүнөзүнө жараша жоготууну микро-ийилүүдөн же макро-ийилүүдөн айырмалоо абдан зарыл, бул көйгөйдүн туура жайгашкан жерин жана көйгөйдү чечүү жолун камтыйт.

1. Геометриялык деформация жагынан

Микро-ийилүү жоготуусу чындыгында буланын бир аз деформациясынан келип чыккан жоготуу, ал эми макро-ийилүү жоготуусу чыныгы ийилүүдөн келип чыккан жоготуу, ал эми буланын сырткы диаметри идеалдуу туруктуу бойдон калууда. Бул геометрияда айкын айырмачылыкты жаратат. Буланын кичинекей деформациясын буланын узунунан багытындагы геометриялык айлананын жогорку жыштыктагы бузулушу катары кароого болот. Бул бузулуунун эки өзгөчөлүгү бар: амплитуда жана жыштык. Микро-ийилүү көрүнүшү жогорку жыштыктан жана төмөнкү амплитудадан келип чыгат. Тышкы бузулууну симуляциялоого болот, жана анын жыштыгы жана амплитудасы убакыттын өтүшү менен кокустук түрдө өзгөрөт. Бул кокустук өзгөрүүнүн Фурье конвертациясын алганда, чоңдугу кубаттуулукка барабар жана кубаттуулуктун спектрдик тыгыздыгы менен мейкиндик жыштыгынын ортосунда тиешелүү дал келүүчүлүк бар.

Муну интуитивдик жактан түшүнүү жана сапаттык тыянак чыгаруу да оңой: бузулуу жыштыгы өтө жогору болгондо, буланын деформациясы бирдей болот жана микро ийилүү жоготуусунун таасири чоң эмес. Бирок, бузулуу жыштыгы өтө төмөн болгондо, чыныгы ийилүү пайда болушу мүмкүн жана макро ийилүү жоготуусу басымдуулук кылат.

2. Жоготуу механизминен

Макро-ийилүү жоготуусунда, буладагы фундаменталдык режимдин (бир режимдүү була) режим талаасынын бөлүштүрүлүшү ийилүү тарабына диффузияланат жана каптоого терең диффузияланган бөлүгү нурланууну пайда кылып, акырындык менен жоголот деп эсептесе болот. Микро-ийилүү жоготуусунда, идеалдуу булада тараган фундаменталдык режимдин кубаттуулугунун бир бөлүгү дүүлүктүрүү шартында ар кандай жогорку тартиптеги режимдерге туташат. Таралуу аралыгы көбөйгөн сайын, бул жогорку тартиптеги режимдер тарабынан ташылган кубат Oran он элементтүү буласынан нурланат жана албетте, ал кайрадан фундаменталдык режимге туташтырылышы мүмкүн.

Микроийилүү жоготууларын талдоо, адатта, режимдердин байланыш теориясына негизделет жана негизги байланыш бир аз татаал.

Мында C - фундаменталдык режим менен жогорку тартиптеги режимдердин биринин ортосундагы байланыш коэффициенти, ал жетектелген режимден жогорку тартиптеги режимге же каптоо режимине (бир режимдик сценарий) канча кубаттуулук туташтырылаарын көрсөтөт. Qfiber - бул түздөн-түз чыңалуу астында буланын бузулушу, ал эми Qenv - чөйрө өзгөргөндө кыйыр чыңалуу астында бузулуу. Бул моделдөө анализинин тактыгы кыйын, анткени микро-ийилүү жоготууларына алып келген бузулуулар өтө кокустук, бирок анализдин максаты - күчтүү багыт берүү, ал эми айрым сценарийлерде симуляциянын жыйынтыктарын жакындатуу үчүн кошумча коэффициенттерди колдонсо болот.

Ольшанский алгачкы этапта байкоо мамилесин изилдеп, сунуштаган.

а -Өзөктүн радиусу

b - Каптоо радиусу

Дельта - сынуу көрсөткүчүнүн айырмасы

EE-полимер каптамасынын серпилгичтик модулу

Мисалы - оптикалык була айнектин серпилгичтик модулу

Көпчүлүк колдонуу учурлары үчүн бул байланыш пайдалуураак

3. Микроийилүүдөгү жоготуу булагы

Микро ийилүү жоготуусунун булагы негизинен тышкы факторлор болуп саналат. Эгерде була кабель пайда болбостон жылаңач була катары гана колдонулса, бош мейкиндикте тышкы күч болбосо, микро ийилүү жоготуу мүмкүнчүлүгү жок. Буланын өзүнүн геометриялык туура эместиги микро ийилүү жоготуу мүмкүнчүлүгүнө ээ болушу мүмкүн болсо да, буланын өзүнүн микро ийилүү жоготуусунун таасирин этибарга албай коюуга болот, анткени жоготуу сыноосу заводдук сыноодон өткөн. Ал оптикалык кабельдеги же түзмөктөгү тышкы бекитүүгө туура келген оптикалык буланын микро ийилүү жоготуусунун таасирин гана эске алат.

Микроийилүү жоготууларынын булактары негизинен үч аспекттен келип чыгат

Биринчиси - буланын өзүнүн дизайны. Буланын өзүнүн дизайны микро-ийилүүнүн жоголушунун булагы эмес, бирок микро-ийилүүгө сезгичтик буланын дизайнынын өзү менен аныкталат. Була өзөгүнүн дизайнына негизинен MAC мааниси таасир этет. Бул Ольшанскийдин өзгөчөлүк формуласына дал келет.

MAC канчалык кичине болсо, ошол эле тышкы таасирдин астында микро-ийилүү жоготуусу ошончолук аз болот.

Бул белгилүү бир булада чагылдырылат, жалпысынан G657 буласы G652 буласына караганда микро ийилүү жоготуусуна азыраак ээ.

Өзөктүн радиусун азайтуу жана сынуу көрсөткүчүнүн айырмасын көбөйтүү микроийилүү жоготуусун азайтышы мүмкүн болсо да, була параметрлери менен буланын стандартташтырылышынын ортосундагы корреляция бир гана параметрди өзгөртүп, калгандары өзгөрүүсүз калган сценарийде болушу күмөн. Бирок тенденция уланууда.

Буладагы каптоонун дизайны да жакшыртууларды алып келиши мүмкүн. Каптоого белгилүү бир оюк конструкциясы кошулганда, микроийилүү жоготуусунун толкун узундугуна көз карандылыгы абдан өзгөрөт.

Сүрөттөгү оюк буланын микроийилүү жоготуусунун толкун узундугуна көз карандылыгы стандарттуу буланыкынан абдан айырмаланат. Бул сүрөттөгү стандарттуу буланын толкун узундугуна көз карандылыгы кадимки маалыматтардан бир аз ашып түшөт, негизинен микроийилүү жоготуусу тегизделген оюк дизайн буласы үчүн. Бул кадимки көйгөйдүн жайгашкан жери жана көйгөйдү талдоо буланын дизайнын эске алуу керек дегенди билдирет, болбосо жөн гана тажрыйбага таянуу жаңылыштыруучу болушу мүмкүн. Кыскасы, буланын дизайны микроийилүү жоготуусун оптималдаштырат, бул айрым сценарийлер үчүн пайдалуу.

Экинчиден, микро ийилүүдөгү жоготуулардын булагы оптикалык була кабелинин факторуна байланыштуу, ал татаалыраак. Татаалдыгы оптикалык була кабелинин түрлөрү өтө көп жана дизайны ар башка болгондуктан, белгилүү бир түргө өзгөчө мамиле кылуу салыштырмалуу оңой. Типтүү фактор - каптоонун таасири. Интуитивдик түрдө, буланы коргоонун биринчи коргонуу линиясы катары каптоо натыйжалуу чыңалууну өткөрүү ролун ойнойт деген тыянак чыгарууга болот. Эгерде каптоо чыңалууну өткөрүү функциясы катары колдонулса, ички серпилгичтик модулу канчалык кичине жана тышкы серпилгичтик модулу канчалык чоң болсо, чыңалууну өткөрүү функциясынын мааниси ошончолук кичине болот жана тиешелүү микро ийилүү жоготуусунун таасири да кичине болот. Каптоонун диаметри канчалык чоң болсо, микро ийилүү жоготуусунун таасири ошончолук кичине болот.

Албетте, 900 мкм диаметри 250 мкм буласынын микроийилүү жоготуусунан алда канча кичинекей. Ошондой эле, була-оптикалык кабелдин ошол эле дизайнында, 900 мкм буласынын активдүүлүк мейкиндиги кичинекей болгону менен, кадимки шарттарда анын микроийилүү жоготуусу кабельде чындыгында алда канча аз экени белгилүү.

Үчүнчү фактор - кабель жайгашкан чөйрөнүн таасири. Микроийилүү жоготуусунун татаалдыгынан улам, учурда стандартташтырылган сыноо ыкмасы жок жана IEC/TR62221 тарабынан берилген сыноо ыкмасы, адатта, түздөн-түз колдонулат. Бул бузулууну аныктоо кыйын. Айрым сыноо ыкмалары, сыноо чөйрөлөрү жана сыноо жабдуулары үчүн да, ар кандай жайгаштыруу жерлери ар кандай натыйжаларга алып келиши мүмкүн. Ар кандай лабораториялардын жана ар кандай сыноо ыкмаларынын жыйынтыктарын түздөн-түз салыштырууга болбойт, бирок баары сапаттык салыштыруулар болуп саналат. Анын сыноо жыйынтыктары үчүн аны өзүнчө баалоо керек.